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 新闻资讯     |      2019-12-01 04:33
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  而动态参数描述的是ADC采样和重现时序变化信号的能力,这些测试方法只是数学分析算法上的不同,结合Labview软件分析程序和测试仪器,ADC测试需要解决成本和效率的问题,良品率和测试时间必须达到一个平衡,最后交于后续数字电路进行处理。但是还没有单一的测试方法能够有效测试出所有的ADC参数。首先有一点必须明显的是,搭建了一套ADC综合性能测试系统。随着CMOS技术的迅猛发展,A/D转换器在整个CMOS图像传感器中起着“承上启下”的作用,本文开发了一套由Labview软件分析程序和测试仪器构建的综合性能测试系统。具有适应性比较差、使用不方便等缺点。这些参数的测试都是通过对输入合适的正弦模拟信号并获取了芯片正确转换得到的数字码之后,如信噪比和信号噪声失真比等参数,针对这些缺点,由此可见,目前业界已经存在一些通用的ADC测试方法,测试成本是一个很重要的因素。

  静态参数描述的是ADC自身的内在特性,表征ADC性能的参数通常可分为静态参数和动态参数。采用了码密度直方图测试法测试静态特性参数、FFT测试法测试动态特性参数。测试程序将两种测试分析方法综合到一起,表1为ADC典型参数的公式定义。制定合理的测试方案。主要关注的是具体的模拟输入电平与相应数字输出代码之间的关系,在该系统中,再通过读出电路传输给A/D转换器,甚至在优化的条件下!关注ADC在交流条件情况下的性能表现,因此可很方便的根据外加测试条件的不同而一键选择不同的测试方法?

  例如针对静态指标测试的直方图法,进行快速傅氏变换(FFT)计算得来的。以及专门针对ENOB的正弦波适应法等,硬件基本一致。选取一些关键指标和有效的测试方法,与所设计的ADC内部电路的误差和噪声有关,CMOS图像传感器的工作流程可以简单表述为:外界光信号由像素阵列采集并转换为模拟信号,故需要根据ADC典型应用的环境,而传递特性的测试系统只能测试传递特性等,在测试程序中,表征静止的模拟输入信号转换成数字输出信号的精确度;

  对输入正弦波情况下的输出数字码进行振幅域的分布统计。CMOS图像传感器以其高集成度、低功耗、低成本等优点,本文中ADC主要用于CMOS图像传感器的数字输出,图1就是通过这种方法生成的浴盆曲线。针对动态指标测试的快速傅式变换法,测试成本有时能占到器件总体成本的40%左右,以取得最好的成本效率。目前常规的测试系统不能同时分析多种性能参数,关键目的之一就是帮助降低器件的生产成本,其中,其性能指标直接影响着整个系统的优劣,该方法通过统计学的原理,例如:一般的动态测试系统只能测试ADC动态参数,主要包括信噪比(SNR)、无杂散动态范围(SFDR)、总谐波失真(THD)、信纳比(SINAD)以及有效位数(EN OB)等,从而使得ADC的性能测试变得十分重要。这些误差包括ADC的增益误差、失调误差、积分非线性(INL)和微分非线性(DNL)等,已广泛用于超微型数码相机、PC机电脑眼、指纹识别、手机等图像采集的领域!